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美國AST光譜反射薄膜分析儀SR300
產(chǎn)品簡介：
SR系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST（Angstrom
Sun）公司，其可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測量，為人們針對薄膜進(jìn)行分析提供了極大便利。
特點(diǎn)：
· 易于安裝
· 容易操作的基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件
· 先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，以確保能發(fā)揮出最佳的系統(tǒng)性能
· 基于陣列設(shè)計(jì)的探測器系統(tǒng)，以確保快速測量
· 獨(dú)特的光源設(shè)計(jì)，有著較好的光源強(qiáng)度穩(wěn)定性
· 有四種方法來調(diào)整光的強(qiáng)度：
§ 通過電源的調(diào)節(jié)旋鈕來調(diào)節(jié)電源輸出的大小
§ 在光輸出端口濾光槽內(nèi)調(diào)整濾光片來調(diào)整
§ 調(diào)整光束大小
§ 通過TFProbe軟件，在探測器里調(diào)整積分時(shí)間
· 最多可測量5層的薄膜厚度和折射率
· 在毫秒的時(shí)間內(nèi)，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù)
· 能夠用于實(shí)時(shí)或在線的厚度、折射率測量
· 系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫
· 對于每個(gè)被測薄膜樣品，用戶可以利用先進(jìn)的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型（EMA）測量分析；
· 可升級至MSP（顯微分光光度計(jì)）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點(diǎn)測量。
· 通過模式和特性結(jié)構(gòu)直接測量。
· 提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測量，例如通過曲線表面進(jìn)行縱長測量。
· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。
系統(tǒng)配置：
· 型號：SR300
· 探測器： 2048像素的CCD線陣列
· 光源：高穩(wěn)定性、長壽命的鹵素?zé)?o:p>
· 光傳送方式：光纖
· 臺(tái)架平臺(tái)：特殊處理鋁合金，能夠很容易的調(diào)節(jié)樣品重量、200mmx200mm的大小
· 軟件： TFProbe 2.2版本的軟件
· 通訊接口：USB的通訊接口與計(jì)算機(jī)相連
· 測量類型：薄膜厚度，反射光譜，折射率
· 電腦硬件要求：P3以上、最低50 MB的空間
· 電源：110–240V AC/50-60Hz，1.5A
· 保修：一年的整機(jī)及零備件保修