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產(chǎn)品簡介：

SR系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST（Angstrom Sun）公司，其可以實現(xiàn)薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數(shù)也可以實現(xiàn)測量，為人們針對薄膜進行分析提供了極大便利。

特點：

· 易于安裝

· 容易操作的基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件

· 先進的光學(xué)設(shè)計，以確保能發(fā)揮出最佳的系統(tǒng)性能

· 基于陣列設(shè)計的探測器系統(tǒng)，以確?？焖贉y量

· 獨特的光源設(shè)計，有著較好的光源強度穩(wěn)定性

· 有四種方法來調(diào)整光的強度：

§ 通過電源的調(diào)節(jié)旋鈕來調(diào)節(jié)電源輸出的大小

§ 在光輸出端口濾光槽內(nèi)調(diào)整濾光片來調(diào)整

§ 調(diào)整光束大小

§ 通過TFProbe軟件，在探測器里調(diào)整積分時間

· 最多可測量5層的薄膜厚度和折射率

· 在毫秒的時間內(nèi)，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù)

· 能夠用于實時或在線的厚度、折射率測量

· 系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫

· 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用先進的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進行色散或者復(fù)合模型（EMA）測量分析；

· 可升級至MSP（顯微分光光度計）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點測量。

· 通過模式和特性結(jié)構(gòu)直接測量。

· 提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測量，例如通過曲線表面進行縱長測量。

· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。

系統(tǒng)配置：

· 型號：SR300

· 探測器： 2048像素的CCD線陣列

· 光源：高穩(wěn)定性、長壽命的鹵素?zé)?o:p>

· 光傳送方式：光纖

· 臺架平臺：特殊處理鋁合金，能夠很容易的調(diào)節(jié)樣品重量、200mmx200mm的大小

· 軟件： TFProbe 2.2版本的軟件

· 通訊接口：USB的通訊接口與計算機相連

· 測量類型：薄膜厚度，反射光譜，折射率

· 電腦硬件要求：P3以上、最低50 MB的空間

· 電源：110–240V AC/50-60Hz，1.5A

· 保修：一年的整機及零備件保修